데이터 센터 자동 데이터 오류 기술 문서

설명

데이터 오류는 컴퓨팅 업계에서 새로운 것이 아닙니다. 알파 입자로 인한 메모리 및 자기 하드 드라이브 오류의 소프트 오류는 오랫동안 잘 연구되고 문서화되었습니다. 최근에는 인텔, 구글, 메타에서 마이크로프로세서 내부의 결함으로 인한 사일런트 데이터 오류(SDE)에 대한 기술 논문을 발표했으며 이 주제는 업계 컨퍼런스에서 논의되었습니다. 이 백서에서는 인텔의 테스트 철학인 SDE와 인텔 데이터 센터 진단 도구에 대해 중점적으로 설명합니다.