5세대 인텔® 제온® 프로세서에 대한 인텔® In-Field Scan으로 서버 제품군 관리 개선
콘텐츠 형태: 설치 및 설정 | 문서 ID: 000099537 | 마지막 검토일: 2025-01-31
5세대 인텔® 제온® 스케일러블 프로세서(이전 코드명 Emerald Rapids)는 인텔® In-Field Scan이라는 새로운 RAS(안정성, 가용성 및 서비스 용이성) 기능을 도입했습니다. 시스템 관리자가 시간이 지남에 따라 장애가 발생한 프로세서를 빠르고 쉽게 찾을 수 있도록 설계된 도구 제품군입니다. 인텔® In-Field Scan에는 현재 및 미래의 프로세서에 포함될 기능 로드맵이 있습니다. SAF(Scan-at-Field) 및 BIST(Array Built In Self Test)는 In-Field Scan 제품군의 처음 두 기능이며 둘 다 5세대 인텔® 제온® 프로세서에서 사용할 수 있습니다.
인텔® In-Field Scan은 침입을 최소화하고 하나의 코어를 빠르게 테스트하는 동안 노드의 다른 모든 코어는 고객 워크로드를 계속 실행하도록 설계되었습니다.
Scan*은 반도체 장치의 결함을 감지하는 업계 표준 방법입니다. 지금까지 스캔은 칩 제조 공장의 특수 테스트 장비에서 사용되었습니다. 인텔은 HVM(High-Volume Manufacturing) 중에 스캔을 사용하여 프로세서를 테스트합니다.
현장 스캔을 통해 고객은 인텔의 제조 스캔 테스트의 하위 집합을 실행하여 개별 프로세싱 코어에 결함이 있는지 확인할 수 있습니다. 인텔에서 제공하는 테스트 패턴(스캔 테스트 이미지)을 사용하여 프로세서 패키지 내의 각 코어를 독립적으로 테스트하여 올바르게 작동하는지 확인할 수 있습니다.
어레이 BIST는 L1(레벨 1) 및 L2(레벨 2) 캐시와 각 코어의 많은 레지스터 파일 및 데이터 어레이를 확인합니다. BIST(Built-In Self Test)이기 때문에 로드할 테스트 이미지가 없습니다. 모든 테스트는 각 코어의 전용 테스트 모듈에 의해 조정됩니다.
SAF 및 ArrayBIST에 대한 높은 수준의 기술 개요는 Finding Fault Components in a Live Fleet Environment 기술 문서에 나와 있습니다. 시스템 요구 사항과 인 필드 스캔 실행 방법에 대한 자세한 내용은 5세대 인텔® 제온® 프로세서용 인텔® 인 필드 스캔 활성화 안내서 에 나와 있습니다.
인텔® In-Field Scan은 고객이 업계 테스트 기능을 사용하여 장비에서 결함이 있는 장치를 신속하게 식별할 수 있도록 해주기 때문에 안정성 및 가용성 서비스 영역에서 중요한 진전입니다.
플랫폼에서 인텔® In-Field Scan을 활성화하기 위한 하드웨어 및 소프트웨어 요구 사항이 있습니다. 다음은 요구 사항에 대한 요약입니다.
인텔® In-Field Scan은 시스템 관리자가 프로세서가 올바르게 작동하는지 확인하기 위해 주기적으로 제품군을 테스트하는 데 사용할 수 있도록 설계 및 최적화되었습니다. 인텔® In-Field Scan은 시스템 관리자에게 전체 노드의 작업을 중단하지 않고 라이브 노드(온라인 상태이며 사용자 응용 프로그램을 실행하는 노드)에서 실행할 수 있는 매우 빠른 프로세서 테스트를 제공합니다. 이 경우 매우 빠르다는 용어는 ~200ms 이하를 의미합니다.
시간이 지남에 따라 고장난 구성 요소를 찾기 위해 함대를 주기적으로 테스트하는 것이 좋습니다. 얼마나 자주 플릿을 테스트하고 얼마나 광범위한 테스트를 실행할지는 복잡한 질문입니다. 많은 변수가 작용합니다 (예 : 프로세서가 실행 된 시간); 프로세서의 예상 FIT(Failure in Time) 2 비율은 얼마입니까? SDE(Silent Data Errors)에 대한 고객의 허용 오차는 얼마입니까? 시스템 관리자가 사전 예방적 시스템 유지 관리에 할애할 수 있는 시간도 포함됩니다.
Finding T결함 있는 구성 요소 in a Live Fleet Environment 기술 문서는 현장 스캔을 실행할 수 있는 빈도에 대한 고려 사항과 예를 제공합니다.
5세대 인텔 제온 프로세서용 인텔® 현장 스캔 활성화 안내서 에는 실행 및 테스트 방법과 결과 이해 방법에 대한 자세한 정보가 있습니다.
5세대 인텔® 제온® 프로세서에 대한 인텔® 현장 스캔 스캔 테스트 이미지와 버전 확인 또는 새 이미지 로드 지침이 게시 되어 있습니다(NDA 계정 필요 - 인텔® 리소스 및 문서 센터 신청 방법).
인텔® In-Field Scan 응용 프로그램이 게시 되었습니다(NDA 계정 필요 - 인텔® 리소스 및 문서 센터 신청 방법).
수십만 또는 수백만 개의 프로세서가 있는 플릿에서는 정기적으로 장애가 발생할 수 있습니다. 이러한 결함을 가능한 한 빨리 찾는 것이 고객 운영 중단을 최소화하는 데 중요합니다.
인텔은 프로세서가 올바르게 작동하는지 테스트할 수 있도록 여러 도구와 기능 로드맵을 제공함으로써 업계를 선도하고 있습니다. 인텔® In-Field Scan은 이러한 테스트 기능을 확장하여 시스템 관리자의 차량 관리를 개선합니다.
인텔은 인텔® Data Center Diagnostic Tool(인텔® DCDiag)도 제공합니다. 인텔® DCDiag는 각 개별 마이크로프로세서 코어의 기능을 포함하여 대부분의 SoC 기능을 체계적으로 검사하는 테스트 제품군입니다. DCDIAG는 테스트 실행이 제대로 완료되었는지 확인하는 것뿐만 아니라 모든 DCDIAG 계산이 올바른지 확인함으로써 자동 데이터 오류로 나타나는 오류를 포함하여 다양한 유형의 오류를 감지할 수 있습니다. 인텔® DCDiag에 대한 자세한 내용은 이 링크 를 참조하십시오.
인텔® In-Field Scan 및 인텔® DCDiag 는 상호 보완적인 테스트 도구입니다. 인텔® In-Field Scan은 침입을 최소화하고 하나의 코어를 빠르게 테스트하는 동안 노드의 다른 모든 코어는 고객 워크로드를 계속 실행하도록 설계되었습니다. 인텔® DCDiag는 포괄적인 프로세서 테스트 제품군이며 전체 처리 노드가 테스트 전용일 때 가장 효과적입니다. 두 도구는 서로 다른 테스트 콘텐츠를 실행하기 때문에 인텔은 각 도구가 테스트한 프로세서에서 서로 다른 오류를 식별한다는 것을 발견했습니다.
메모: 5세대 인텔® 제온® 프로세서의 모든 SKU가 인텔® 인필드 스캔을 지원하는 것은 아닙니다.